Índices de capacidad a corto y largo plazo para seis sigma

El índice de capacidad más simple para Six Sigma se llama C

_P o el índice de capacidad a corto plazo. Se compara la anchura de una especificación de dos caras a la anchura eficaz a corto plazo del proceso.

Índice de capacidad a corto plazo (C_P)

La determinación de la anchura entre los dos límites de especificación rígido es de fácil es simplemente la distancia entre el límite de especificación superior (USL) Y el límite de especificación inferior (LSL). Pero con la variación de que arrastra a cabo a las colas, ¿cómo se determina la anchura del proceso?

Para superar este obstáculo, los profesionales de Six Sigma han definido la efectiva límites de cualquier proceso como tres desviaciones estándar de distancia respecto al nivel medio. En este ajuste, estos límites rodean 99,7 por ciento, o prácticamente todo, de la variación en el proceso. Figura 13-9 muestra gráficamente estos límites.

Así que para comparar el ancho de la especificación para el ancho de corto plazo del proceso, se utiliza la siguiente fórmula:

dónde USL - LSL representa la voz de los requerimientos del cliente y 6 # 963-_ST representa la voz inherente del proceso. Un calculada C_P valor igual a 1 significa que la voz del cliente es igual a la voz del proceso.

LA C_P valor menor que 1 significa que el proceso es más ancha que la especificación, con defectos extienda a lo largo de los bordes. LA C_P valor mayor que 1 significa que la anchura efectiva de la variación del proceso es inferior a la especificación requerida, con menos defectos que se produzcan.

C_P es una medida de proceso a corto plazo o la capacidad característica. Utilice sólo la desviación estándar de corto plazo para el cálculo de su valor. El uso de una desviación estándar a largo plazo en su cálculo le da resultados incorrectos.

Índice Ajustado capacidad a corto plazo (C_PK)

los Índice ajustada capacidad de corto plazo (C_PK) se ocupa de un problema con el índice de capacidad a corto plazo C_P en el apartado anterior. La cuestión: C_p compara sólo las anchuras de la especificación y el proceso. La figura 13-10 ilustra este problema.

Tanto la distribución dibujado con la línea continua y la distribución dibujado con la línea de puntos tienen el mismo calculado C_P. Esto se debe a que ambos tienen el mismo ancho de especificación y la misma anchura proceso. Pero ellos no tienen la misma capacidad. Debido a que está desplazado del centro de la especificación, la distribución línea de puntos tiene muchos más defectos que la distribución sólida.

Puede compensar esta discrepancia ajustando el C_P cálculo de lo lejos que está fuera del centro. Para ello, sólo tiene que comparar la distancia desde el centro de distribución a cada uno de los límites de la especificación con la mitad de la anchura de la variación a corto plazo que debe existir entre el centro de la distribución y el límite de especificación, así:

y

El menor valor se calcula de C_PU y C_PL es el C_PK. Así que usted puede escribir la fórmula para C_PK como

donde el min en la ecuación que dice que elegir el menor de los valores entre paréntesis.

Si la variación característica o proceso está centrado entre sus límites de especificación, el valor calculado para C_PK es igual al valor calculado para C_P. Pero tan pronto como la variación del proceso se mueve fuera del centro de la especificación, está penalizada en proporción a lo lejos que está compensado. C_PK es muy útil y muy ampliamente utilizado.

Eso es porque compara la anchura de la especificación con la anchura del proceso mientras que también tener en cuenta cualquier error en la ubicación de la tendencia central. Este enfoque es mucho más realista que la que el C_P método ofrece.

Generalmente, una C_PK mayor que 1,33 indica que un proceso o característica es capaz en el corto plazo. Los valores inferiores a 1,33 le dicen que la variación es demasiado amplia en comparación con la especificación o que la ubicación de la variación se compensa desde el centro de la especificación. Puede ser una combinación de ambos anchura y la ubicación.

Índices de capacidad a largo plazo (P_P y P_PK)

Los mismos índices de capacidad que el cálculo de la variación a corto plazo también se pueden calcular a largo plazo, o total, variación. Para diferenciarlos de sus homólogos a corto plazo, estos índices de capacidad a largo plazo se llaman P_P y P_PK. (Los P representa " el rendimiento ").

La única diferencia en sus fórmulas es que utilice # 963-_LT en lugar de # 963-_ST. Estos índices de capacidad a largo plazo son importantes porque hay un proceso o característica funciona sólo en el corto plazo. Cada proceso se extiende a lo largo de tiempo para crear el rendimiento a largo plazo.

Prescribir un plan de mejora de la capacidad

¿Cómo puedes usar los de corto y de capacidad a largo plazo los índices de un proceso o característica para trazar un plan de mejora? Tabla 13-5 describe los diversos escenarios que pueden ocurrir cuando se está midiendo la capacidad de un proceso o característica y describe un plan de mejora para cada escenario.

Síntoma	Diagnóstico	Receta
CP = CPK yPP = PPK	En general, el proceso o característica se centra en itsspecifications.	Según sea necesario, se centran en la reducción de la variación a largo plazo en yourprocess o característica manteniendo al mismo tiempo on-centerperformance.
CP =PP y CPK= PPK	Su proceso o sufre característicos de una constante offsetin su ubicación central.	Concéntrese en corregir el punto de su orcharacteristic proceso de configuración hasta que esté centrada.
CP = PPK	Su proceso está operando en su ofvariation nivel de servicio.	Continúe controlando la capacidad de su proceso. Proceso Redesignyour para mejorar su nivel de servicio de rendimiento.